DE19603469A1 - Taktsignal-Modellierungsschaltung - Google Patents

Taktsignal-Modellierungsschaltung

Info

Publication number
DE19603469A1
DE19603469A1 DE19603469A DE19603469A DE19603469A1 DE 19603469 A1 DE19603469 A1 DE 19603469A1 DE 19603469 A DE19603469 A DE 19603469A DE 19603469 A DE19603469 A DE 19603469A DE 19603469 A1 DE19603469 A1 DE 19603469A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
output
delay
clock signal
unit
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19603469A
Other languages
English (en)
Other versions
DE19603469C2 (de
Inventor
Sung Man Park
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MagnaChip Semiconductor Ltd
Original Assignee
LG Semicon Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LG Semicon Co Ltd filed Critical LG Semicon Co Ltd
Publication of DE19603469A1 publication Critical patent/DE19603469A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19603469C2 publication Critical patent/DE19603469C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/14Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of delay lines
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • G11C7/222Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • G06F1/04Generating or distributing clock signals or signals derived directly therefrom
    • G06F1/10Distribution of clock signals, e.g. skew
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/131Digitally controlled
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/133Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals using a chain of active delay devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/135Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of time reference signals, e.g. clock signals

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG 1. Bereich der Erfindung
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Taktsignal-Modellierungsschaltung und besonders eine verbesserte Taktsignal-Modellierungsschaltung, die in der Lage ist, ein internes Taktsignal in einem externen Taktsignal schneller zu erzeugen, ohne einen Phasenregelkreis (PLL) und einen Verzögerungsregelkreis (DLL) zu verwenden.
2. Beschreibung der herkömmlichen Technik
Vor kurzem sind Speicherbausteine entwickelt worden, die bei hoher Geschwindigkeit arbeiten. Damit jedoch eine bestimmte Schaltung ein internes Taktsignal erzeugen kann, ist es nötig, daß sie ein externes Taktsignal empfängt und einen bestimmten Verzögerungsprozeß besitzt. Da der Verzö­ gerungsprozeß in dieser Hinsicht seine Grenze hat, besteht eine bestimmte Grenze bei Verringern der Taktzugriffszeit, bis das externe Taktsignal empfangen wird und die in einem Speicher gespeicherten Daten ausgegeben werden.
Deshalb wird im allgemeinen eine PLL oder DLL dazu verwendet, die Taktzugriffszeit zu verringern, so daß die Verzögerung zwischen dem externen Taktsignal und dem inter­ nen Taktsignal verringert werden kann, und es ist möglich, das interne Taktsignal schneller als das des externen Takt­ signals zu erzeugen.
Ein Verfahren zum Verringern einer Taktzugriffszeit unter Verwendung der PLL und der DLL erfordert jedoch Hun­ derte von Taktzyklen und die PLL und DLL sollten auch in einem Bereitschaftszustand betrieben werden, so daß ungün­ stigerweise ein höherer Stromverbrauch erforderlich ist.
Obwohl zusätzlich die PLL oder die DLL abgeschaltet wird, um den Stromverbrauch in einem Selbstauffrischungsbe­ trieb, der nicht auf einen Baustein zugreift, zu verrin­ gern, ist es, um wieder auf den Baustein zuzugreifen, er­ forderlich, die Ausführung des Selbstauffrischungsbetriebs zu beenden, und die PLL und die DLL sollten betrieben wer­ den, so daß es schwierig ist, ein externes Taktsignal und ein internes Taktsignal während Hunderten von Zyklen zu koppeln.
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
Es ist folglich ein Ziel der vorliegenden Erfindung, eine Taktsignal-Modellierungsschaltung bereitzustellen, welche die bei einer herkömmlichen Taktsignal-Modellierungsschaltung auftretenden Probleme überwindet.
Es ist ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung, eine verbesserte Taktsignal-Modellierungsschaltung bereit­ zustellen, die in der Lage ist, ein internes Taktsignal in einem externen Taktsignal schneller zu erzeugen, ohne einen Phasenregelkreis und einen Verzögerungsregelkreis zu ver­ wenden.
Um die obigen Ziele zu erreichen, wird eine Taktsignal-Modellierungsschaltung bereitgestellt, die folgendes beinhaltet: eine Verzögerungseinheit zum Empfangen eines externen Taktsignals und zum Ausgeben eines Verzögerungs­ taktsignals; eine Abtasteinheit zum Empfangen des Verzöge­ rungstaktsignals und zum Abtasten gemäß einem externen Taktsignal; eine Vergleichseinheit zum Empfangen der Ausga­ be der Abtasteinheit und zum aufeinanderfolgenden Verglei­ chen der Ausgabe; und eine Ausgabeeinheit zum Empfangen des von der Verzögerungseinheit ausgegebenen Verzögerungstakt­ signals und zum Ausgeben eines internen Taktsignals gemäß einem Ausgangssignal der Vergleichseinheit und einem von außen angelegten Schaltsignal.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
Fig. 1 ist ein Schaltungsdiagramm einer Taktsignal-Modellierungsschaltung einer ersten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfindung.
Fig. 2A bis 2H sind Diagramme, die einen Zeitablauf jedes Elements von Fig. 1 gemäß der vorliegenden Erfindung zeigen.
Fig. 3 ist ein Schaltungsdiagramm einer Taktsignal-Modellierungsschaltung einer zweiten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfindung.
Fig. 4 ist ein Schaltungsdiagramm einer Taktsignal-Modellierungsschaltung einer dritten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfindung.
AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
Fig. 1 zeigt eine Taktsignal-Modellierungsschaltung einer ersten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfin­ dung, die eine Verzögerungseinheit 10 zum Empfangen eines externen Taktsignals CLK_IN und zum Ausgeben von Verzöge­ rungstaktsignalen CLK_D1-CLK_DN, eine Abtasteinheit 20 zum Empfangen der Verzögerungstaktsignale CLK_D1-CLK_DN und zum Abtasten gemäß einem externen Taktsignal CLK_IN, eine Ver­ gleichseinheit 30 zum Empfangen der Ausgabe der Abtastein­ heit 20 und zum aufeinanderfolgenden Vergleichen, und eine Ausgabeeinheit 40 zum Empfangen der Verzögerungstaktsignale CLK_D1-CLK_DN und zum Ausgeben eines internen Taktsignals gemäß einem Ausgangssignal der Vergleichseinheit 30 ent­ hält.
Die Verzögerungseinheit 10 enthält eine Vielzahl von Verzögerungsanschlüssen D1-Dn, von denen jeder aus zwei Invertern I1 und I2 besteht, und die Abtastschaltung ent­ hält Flipflops FF1-FFn, von denen jeder das von der Verzö­ gerungseinheit ausgegebene Verzögerungstaktsignal empfängt und gemäß einem externen Taktsignal CLK_IN abtastet und einen invertierten Wert Qn ausgibt, wobei n gleich 1, 2, 3, . . ., n ist.
Die Vergleichseinheit 30 enthält Vergleichseinheiten C1-Cn, wobei jede Vergleichseinheit Cn einen Inverter 31 zum Empfangen einer Ausgabe Qn des Flipflops FFn und zum Ausgeben eines invertierten Werts und ein NOR-Gatter 32 zur NOR-Verknüpfung der Ausgabe des Inverters 31 und der Ausga­ be des Flipflop FFn+1 enthält.
Die Ausgabeeinheit 40 enthält Ausgabe-Auswahleinheiten OS0-OSn, von denen jede ein Durchlaßgatter 41 zum Empfangen eines externen Taktsignals CLK_IN und zum Ausgeben gemäß einem Schaltsignal SWS und ein parallel zum Durchlaßgatter 41 geschaltetes und durch eine Massespannung immer ange­ schaltetes Durchlaßgatter 42 enthält. Zusätzlich enthält jede Ausgabe-Auswahleinheit QSn das Durchlaßgatter 41 zum Durchlassen eines gemäß einem von der Vergleichseinheit Cn ausgegebenen Vergleichssignal CSn vom Verzögerungsanschluß Dn ausgegebenen Verzögerungstaktsignals CLK_Dn und das par­ allel zum Durchlaßgatter geschaltete Durchlaßgatter 42 wird gemäß einem von der Vergleichseinheit Cn ausgegebenen Ver­ gleichssignal CSn leitend.
Die Arbeitsweise der Taktsignal-Modellierungsschaltung der ersten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfindung wird nun mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen erklärt.
Wenn ein externes Taktsignal CLK_IN eingegeben wird, verzögert jeder der Verzögerungsanschlüsse D1-Dn das exter­ ne Taktsignal CLK_IN und gibt die Verzögerungstaktsignale CLK_D1-CLK_Dn an die Abtasteinheit 20 und die Ausgabeein­ heit 40 aus.
Danach tasten die Flipflops FF1-FFn der Abtasteinheit 20 bei einer ansteigenden Flanke des externen Signals CLK_IN die Verzögerungstaktsignale CLK_D1-CLK_Dn ab und geben nicht invertierte Ausgangssignale Q1-Qn aus und die Vergleichseinheiten C1-Cn der Vergleichseinheit 30 verglei­ chen der Reihe nach die Ausgangssignale Q1-Qn und geben Vergleichssignale CS1-CSn aus.
Deshalb gibt die Ausgabeeinheit 40 ein Taktsignal als ein internes Taktsignal unter den von den Verzögerungsan­ schlüssen D1-Dn ausgegebenen Verzögerungstaktsignalen CLK_D1-CLK_Dn aus.
Das bedeutet, wenn wie in Fig. 2A gezeigt das externe Taktsignal CLK_IN eingegeben wird, verzögern die Verzöge­ rungsanschlüsse D1-Dn in Zusammenarbeit mit zwei Invertern I1 und I2 das externe Taktsignal CLK_IN und geben wie in Fig. 2B bis 2G gezeigt Verzögerungstaktsignale CLK_D1- CLK_Dn aus.
Danach empfängt das Flipflop FF1 der Abtasteinheit 20 das Verzögerungstaktsignal CLK_D1 und tastet das Signal bei einer ansteigenden Flanke des externen Taktsignals CLK_IN ab und gibt ein Signal Q1 mit dem Pegel low aus, und das Flipflop FF2 tastet das Verzögerungstaktsignal CLK_D2 ab und gibt ein Signal Q2 mit dem Pegel low aus.
Zusätzlich tastet das Flipflop FF3 das Verzögerungs­ taktsignal CLK_D3 bei einer ansteigenden Flanke des exter­ nen Taktsignals CLK_IN ab und gibt ein Signal Q3 mit dem Pegel high aus, und das Flipflop FF4 tastet das Verzöge­ rungstaktsignal CLK_D4 ab und gibt ein Signal Q4 mit dem Pegel high aus und das fünfte und sechste Flipflop FF5 und FF6 geben jeweils nach dem oben erwähnten Verfahren Signale Q5 und Q6 mit dem Pegel low an die Vergleichseinheit 30 aus.
Zusätzlich wird der Betrieb der Flipflops FF7-FFn nach dem oben erläuterten Verfahren durchgeführt.
Danach wird das vom Flipflop FF1 ausgegebene Signal Q1 mit dem Pegel low durch einen Inverter 31 der Vergleichs­ einheit C1 invertiert und das NAND-Gatter 32 NAND-verknüpft das invertierte Signal und das vom Flipflop FF2 ausgegebene Signal Q2 mit dem Pegel low und gibt ein Vergleichssignal CS1 mit dem Pegel low aus.
Zusätzlich verknüpft die Vergleichseinheit C2 ein vom Flipflop FF2 ausgegebenes Signal Q2 mit dem Pegel low und ein vom Flipflop FF3 ausgegebenes Signal Q3 mit dem Pegel high logisch und gibt ein Vergleichssignal CS2 mit dem Pe­ gel low aus und die Vergleichseinheit C3 verknüpft ein vom Flipflop FF3 ausgegebenes Signal Q3 mit dem Pegel high und ein vom Flipflop FF4 ausgegebenes Signal Q4 mit dem Pegel high logisch und gibt ein Vergleichssignal CS3 mit dem Pe­ gel low aus und die Vergleichseinheit C4 verknüpft ein vom Flipflop FF4 ausgegebenes Signal Q4 mit dem Pegel high und ein vom Flipflop FF5 ausgegebenes Signal Q5 mit dem Pegel low logisch und gibt ein Vergleichssignal CS4 mit dem Pegel high aus und die übrigen Vergleichseinheiten C5-Cn arbeiten nach dem oben erwähnten Verfahren.
Zu diesem Zeitpunkt wird das Durchlaßgatter 41 der Ausgabe-Auswahleinheiten OS1-OS3 gemäß den von den Ver­ gleichseinheiten C1-C3 ausgegebenen Vergleichssignalen CS1-CS3 mit dem Pegel low abgeschaltet und das Durchlaßgatter 42 wird angeschaltet und das Durchlaßgatter 42 der Ausgabe-Auswahleinheit OS4 wird gemäß einem von der Vergleichsein­ heit C4 ausgegebenen Vergleichssignal CS4 mit dem Pegel high abgeschaltet und das Durchlaßgatter 41 wird abgeschal­ tet.
Da deshalb das vom Verzögerungsanschluß D4 der Verzö­ gerungseinheit 10 ausgegebene Verzögerungstaktsignal CLK_D4 durch das Durchlaßgatter 41 an den Ausgangsanschluß CLK_OUT ausgegeben wird, kann wie in Fig. 2H gezeigt ein internes Taktsignal erhalten werden, das etwas schneller als das des externen Taktsignals CLK_IN ist.
Wenn das externe Taktsignal CLK_IN zusätzlich als ein internes Taktsignal verwendet wird, wird in die Ausgabe-Auswahleinheit OS0 ein Schaltsignal SWS mit dem Pegel high eingegeben, und das Durchlaßgatter 41 wird angeschaltet und ein externes Taktsignal CLK_IN wird an den Ausgabeanschluß CLK_QUT ausgegeben und wenn ein Taktsignal der von den Ver­ zögerungsanschlüssen D1-D3 ausgegebenen Verzögerungstaktsi­ gnale CLK_D1-CLK_D3 als ein internes Taktsignal verwendet wird, wird das eingegebene externe Taktsignal CLK_IN vari­ iert und die von den Vergleichseinheiten C1-Cn ausgegebenen Vergleichssignale CS1-CS3 werden eingestellt und die Verzö­ gerungstaktsignale CLK_D1-CLK_D3 werden selektiv ausgege­ ben.
Fig. 3 zeigt eine Taktsignal-Modellierungsschaltung einer zweiten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfin­ dung, die eine Verzögerungseinheit 50 zum Verzögern eines externen Taktsignals CLK_IN um eine vorbestimmte Zeit und zum Ausgeben verzögerter Taktsignale CLK_D1-CLK_Dn, eine Abtasteinheit 60 zum Empfangen der Verzögerungstaktsignale CLK_D1-CLK_Dn und zum Abtasten gemäß einem externen Taktsi­ gnal CLK_IN, eine Vergleichseinheit 70 zum Empfangen und Vergleichen von Ausgaben Q1-Qn der Abtasteinheit 60 und zum Ausgeben von Vergleichssignalen CS1-CSn und eine Ausgabe­ einheit 80 zum Empfangen der von der Verzögerungseinheit 50 ausgegebenen Verzögerungstaktsignale CLK_D1-CLK_Dn und zum Ausgeben von Vergleichssignalen CS1-CSn der Verzögerungs­ einheit 70 und eines internen Taktsignals gemäß einem ex­ ternen Schaltsignal SWS enthält.
Die Verzögerungseinheit 50 enthält eine Vielzahl von Verzögerungsanschlüssen Dn, von denen jeder aus einem In­ verter I1 besteht, und die Abtasteinheit 60 enthält eine Vielzahl von Flipflops FF1-FFn, von denen jedes ein von der Verzögerungseinheit Dn ausgegebenes Verzögerungstaktsignal CLK_Dn empfängt, bei einer ansteigenden Flanke das externe Taktsignal CLK_IN abtastet, ein ungeradzahliges Flipflop FF2n-1 invertiert und ein geradzahliges Flipflop FF2n nicht invertiert.
Der Aufbau der Vergleichseinheit 70 ist zusätzlich derselbe wie bei der in Fig. 1 gezeigten Vergleichseinheit 30. Die Ausgabeeinheit 80 enthält Ausgabe-Auswahleinheiten OS0-QSn. Die Ausgabe-Auswahleinheit OS0 enthält einen Puf­ fer 81 zum Puffern eines externen Taktsignals CLK_IN, einen mit einem Ausgabe-Freigabeanschluß und einer Massespannung Vss verbundenen Schalter SW1 zum Umschalten gemäß einem externen Steuersignal und einen mit einem Ausgabe-Freigabeanschluß des Puffers 81 und dem Ausgangsanschluß der Ver­ gleichseinheit C1 verbundenen Schalter SW2 zum Umschalten gemäß einem externen Steuersignal.
Zusätzlich enthalten die Ausgabe-Auswahleinheiten OS1-OSn einen Inverter 82 zum Invertieren der Ausgabe des Ver­ zögerungsanschlusses D2n-1 und einen mit dem Ausgabe-Freigabeanschluß des Inverters 82 und dem Ausgabeanschluß der Vergleichseinheit C2n-1 verbundenen Schalter SW1, wobei die Ausgabe-Auswahleinheit OS2n-1 einen mit dem Ausgabe-Freigabeanschluß des Inverters 82 und dem Ausgangsanschluß der Vergleichseinheit C2n verbundenen Schalter SW2 zum Ausgeben eines Vergleichssignals CS2n gemäß einem Schaltsignal SWS, einen Puffer 81 zum Puffern der Ausgabe der Verzögerungs­ einheit D2n, einen mit dem Ausgabe-Freigabeanschluß des Puffers 81 und dem Ausgabeanschluß der Vergleichseinheit C2n verbundenen Schalter SW1 zum Ausgeben eines Vergleichs­ signals CS2n gemäß einem Schaltsignal SWS besitzt und eine Ausgabe-Auswahleinheit OS2n einen mit dem Ausgabe-Freigabeanschluß des Puffers 81 und dem Ausgabeanschluß der Ver­ gleichseinheit C2n+1 gemäß einem Umschaltsignal SWS verbun­ denen Schalter SW2 besitzt.
Die Arbeitsweise der Taktsignal-Modellierungsschaltung der zweiten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfin­ dung wird nun mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen erläutert.
Wenn ein externes Taktsignal CLK_IN eingegeben wird, verzögern die Verzögerungsanschlüsse D1-Dn der Verzöge­ rungseinheit 50 das externe Taktsignal CLK_IN und geben das Verzögerungstaktsignal /CLK_D2n+1 und das Verzögerungstakt­ signal CLK_D2n an die Abtasteinheit 60 und die Ausgabeein­ heit 80 aus.
Danach empfangen die Flipflops FF1-FFn der Abtastein­ heit 60 das Verzögerungstaktsignal /CLK_D2n-1 und das Ver­ zögerungstaktsignal CLK_D2n und tasten bei einer ansteigen­ den Flanke des externen Taktsignals CLK_IN ab und geben das Ausgangssignal /Q2n-1 und das Ausgangssignal Q2n an den invertierten Anschluß /Q und an den nicht invertierten An­ schluß Q aus und die Vergleichseinheiten C1-Cn der Ver­ gleichseinheit 70 vergleichen der Reihe nach das Ausgangs­ signal /Q2n-1 und das Ausgangssignal Q2n.
Deshalb empfangen die Ausgabe-Auswahleinheiten OS1-OSn der Ausgabeeinheit 80 das von den Verzögerungsanschlüssen D1-Dn ausgegebene Verzögerungstaktsignal /CLK_D2n-1 und das Verzögerungstaktsignal CLK_D2n und geben gemäß einem von den Schaltern SW1 und SW2 ausgegebenen Vergleichssignal CS2n-1 und einem Vergleichssignal CS2n ein Taktsignal als ein internes Taktsignal aus.
Das bedeutet, wenn von der Vergleichseinheit C2 ein Vergleichssignal CS2 mit dem Pegel high ausgegeben wird und wenn der Schalter SW1 der Ausgabe-Auswahleinheit OS2 gemäß einem Schaltsignal SWS ausgewählt ist, wird die Ausgabe des Puffers 81 freigegeben und das vom Verzögerungsanschluß D2 ausgegebene Verzögerungstaktsignal CLK_D2 wird durch den Schalter SW2 der Ausgabe-Auswahleinheit OS1 ausgewählt und die Ausgabe des Puffers 82 wird gemäß einem Vergleichs­ signal C2 mit dem Pegel high freigegeben und das vom Verzö­ gerungsanschluß D1 ausgegebene Verzögerungstaktsignal /CLK_D1 wird durch den Inverter 82 invertiert und an den Ausgabeanschluß CLK_OUT ausgegeben.
Falls zusätzlich das externe Taktsignal CLK_IN direkt an das interne Taktsignal ausgegeben wird, wird, wenn von der Vergleichseinheit C1 ein Vergleichssignal CS1 mit dem Pegel high ausgegeben wird, der Schalter SW2 der Ausgabe-Auswahleinheit OS0 auf das Schaltsignal SWS hin angeschal­ tet und der Ausgang des Puffers BUF wird freigegeben und das externe Taktsignal CLK_IN wird durch den Puffer BUF an den Ausgabeanschluß CLK_OUT ausgegeben.
Wenn deshalb in der zweiten Ausführungsform der vor­ liegenden Erfindung von den Vergleichseinheiten C1-Cn der Vergleichseinheit 70 Vergleichssignale CS1-CSn mit dem Pe­ gel high ausgegeben werden, werden die Schalter SW1 und SW2 der Ausgabe-Auswahleinheiten OS1-OSn gesteuert und die Ver­ zögerungstaktsignale CLK_D1-CLK_Dn langsamer oder schneller ausgegeben als das des externen Taktsignals CLK_IN ausgege­ ben werden kann.
Fig. 4 zeigt eine Taktsignal-Modellierungsschaltung einer dritten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfin­ dung. Hier ist die Verzögerungseinheit 50 der zweiten Aus­ führungsform durch eine Verzögerungseinheit 90 ersetzt, die in der Lage ist, einen Betrieb eines bestimmten Verzöge­ rungsanschlusses anzuhalten.
Wie darin gezeigt, wird die Verzögerungseinheit 90 bereitgestellt, die einen aus einem NAND-Gatter bestehenden Verzögerungsanschluß D2n-1, einen Verzögerungsanschluß D2n mit einer Vielzahl von Verzögerungsanschlüssen D1-Dn, von denen jeder aus einem NOR-Gatter besteht, enthält. Die Ver­ zögerungsanschlüsse D1 und D3 der Verzögerungsanschlüsse D1-D4 empfangen durch eines von deren Enden eine Spannung Vcc und die Verzögerungsanschlüsse D2 und D4 empfangen über eines von deren Enden eine Massespannung Vss und die unge­ radzahligen Verzögerungsanschlüsse der Verzögerungsan­ schlüsse D5-Dn sind mit dem Inverter 93 verbunden, der das Vergleichssignal CS2n-1 der Vergleichseinheit 30 invertiert und die geradzahligen Verzögerungsanschlüsse empfangen über deren eines Ende das Vergleichssignal CS2n der Vergleichs­ einheit.
Die Arbeitsweise der dritten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfindung wird nun mit Bezug auf die beigefüg­ ten Zeichnungen erläutert.
Wenn ein externes Taktsignal CLK_IN eingegeben wird, verzögern die Verzögerungsanschlüsse der Verzögerungsein­ heit 90 ein externes Taktsignal CLK_IN durch das NAND-Gatter 91 und das NOR-Gatter 92 und geben jeweils die Verzöge­ rungstaktsignale /CLK_D2n-1, CLK_D2n, . . . an die Abtast­ einheit 60 und die Ausgabeeinheit 80 aus.
Danach empfangen die Flipflops FF1-FFn der Abtastein­ heit 60 die Verzögerungstaktsignale /CLK_D2n-1, CLK_D2n, . . . und tasten bei einer ansteigenden Flanke des externen Taktsignal CLK_IN ab und geben die Ausgangssignale /Q2n-1 und Q2n aus und die Vergleichseinheiten C1-Cn der Ver­ gleichseinheit 70 vergleichen der Reihe nach das Ausgangs­ signal /Q2n-1 und das Ausgangssignal Q2n und geben jeweils die Vergleichssignale CS1-CSn an die Ausgabeeinheit 80 und die Verzögerungsanschlüsse D5-Dn aus.
Deshalb empfängt die Ausgabeeinheit 80 die Verzöge­ rungstaktsignale /CLK_D2n-1, CLK_D2n, . . . und gibt gemäß Vergleichssignalen CS1-CSn und einem Schaltsignal SWS der Vergleichseinheit 30 ein Taktsignal als ein internes Takt­ signal aus und die Verzögerungsanschlüsse D5-Dn der Ver­ gleichseinheit 90 geben gemäß den von der Vergleichseinheit 70 ausgegebenen Vergleichssignalen CS1-CSn ein Signal mit dem Pegel high oder low aus.
Das bedeutet, wenn von der Vergleichseinheit C1 ein Vergleichssignal CS1 mit dem Pegel high ausgegeben wird, wird der Schalter SW2 der Ausgabe-Auswahleinheit OS0 oder der Schalter SW1 der Ausgabe-Auswahleinheit OS1 gemäß einem Schaltsignal SWS angeschaltet und ein vom externen Taktsi­ gnal CLK_IN oder vom Verzögerungsanschluß D1 ausgegebenes Verzögerungstaktsignal CLK_D1 wird als ein internes Taktsi­ gnal ausgegeben und das von der Vergleichseinheit C1 ausge­ gebene Vergleichssignal CS1 mit dem Pegel high wird in die Verzögerungseinheit D5 eingegeben und durch den Inverter 93 invertiert und in einen Anschluß des NAND-Gatters eingege­ ben und der Ausgang des NAND-Gatters 91 wird auf dem Pegel high festgehalten.
Zu diesem Zeitpunkt wirken die Ausgänge der Verzöge­ rungsanschlüsse D2-D4 gemäß Vergleichssignalen CS2-CS4 und einem Schaltsignal SWS und die Verzögerungsanschlüsse D5-Dn werden gemäß den Vergleichssignalen CS2-CS5 auf dem Pegel high oder dem Pegel low festgehalten, so daß es möglich ist, beim Aktivieren der Verzögerungsanschlüsse D5-Dn wäh­ rend eines aktiven Betriebs den Verbrauch an elektrischer Leistung zu verringern.
Wie oben beschrieben, ist die Taktsignal-Modellierungsschaltung der vorliegenden Erfindung darauf gerichtet, ein internes Taktsignal, das soviel wie ein bestimmter Ver­ zögerungsanschluß schneller oder langsamer ausgegeben wird als ein externes Taktsignal, durch Verzögern und Abtasten des externen Taktsignals, aufeinanderfolgendes Vergleichen des abgetasteten Signals und Steuern der Ausgabe des Ver­ gleichssignals, auszugeben, so daß es möglich ist, den Ver­ brauch an elektrischer Leistung während eines aktiven Be­ triebs durch Festhalten des Verzögerungsanschlusses nach einem ausgewählten Verzögerungsanschluß auf einem Pegel high oder einem Pegel low zu verringern.
Obwohl die bevorzugten Ausführungsformen der vorlie­ genden Erfindung zum Zweck der Darstellung beschrieben wur­ den, werden Fachleute erkennen, daß verschiedene Modifika­ tionen, Zusätze und Ersetzungen möglich sind, ohne vom Be­ reich und vom Geist der Erfindung abzuweichen, wie sie in den beigefügten Patentansprüchen beschrieben ist.

Claims (9)

1. Eine Taktsignal-Modellierungsschaltung, die fol­ gendes umfaßt:
eine Verzögerungseinheit 10 zum Empfangen eines exter­ nen Taktsignals und zum Ausgeben eines Verzögerungstaktsi­ gnals;
eine Abtasteinheit 20 zum Empfangen des Verzögerungs­ taktsignals und zum Abtasten gemäß einem externen Taktsi­ gnal;
eine Vergleichseinheit 30 zum Empfangen der Ausgabe der Abtasteinheit 20 und zum aufeinanderfolgenden Verglei­ chen der Ausgabe; und
eine Ausgabeeinheit 40 zum Empfangen des von der Ver­ zögerungseinheit 10 ausgegebenen Verzögerungstaktsignals und zum Ausgeben eines internen Taktsignals gemäß einem Ausgangssignal der Vergleichseinheit 30 und einem von außen angelegten Schaltsignal.
2. Die Schaltung von Anspruch 1, bei der die Verzö­ gerungseinheit eine Vielzahl von Verzögerungsanschlüssen enthält, von denen jeder aus einem Inverter der ersten Stu­ fe und einem Inverter der zweiten Stufe besteht.
3. Die Schaltung von Anspruch 1, bei der die Verzö­ gerungseinheit eine Vielzahl von Verzögerungsanschlüssen enthält, von denen jeder ungeradzahlige Verzögerungsan­ schluß ein NAND-Gatter enthält und jeder geradzahlige Ver­ zögerungsanschluß ein NOR-Gatter enthält.
4. Die Schaltung von Anspruch 3, bei der die Verzö­ gerungsanschlüsse erste und dritte Verzögerungsanschlüsse, von denen jeder von einem von deren Enden elektrische Lei­ stung empfängt, zweite und vierte Verzögerungsanschlüsse, von denen jeder mit einem von deren Enden verbundene Masse­ spannung empfängt, und fünfte bis "n"-te Verzögerungsan­ schlüsse enthält, von denen jeder ungeradzahlige Verzöge­ rungsanschluß mit einem Inverter zum Invertieren eines un­ geradzahligen Vergleichssignals der Vergleichseinheit ver­ bunden ist und ein geradzahliger Verzögerungsanschluß ein geradzahliges Vergleichssignal der Vergleichseinheit emp­ fängt.
5. Die Schaltung von Anspruch 4, bei der die Verzö­ gerungsanschlüsse gemäß einem Vergleichssignal der Ver­ gleichseinheit auf einem Pegel high oder einem Pegel low festgehalten werden.
6. Die Schaltung von Anspruch 1, bei der die Ver­ gleichseinheit einen Inverter zum Invertieren der Ausgabe eines Flipflop und ein NOR-Gatter zum NOR-Verknüpfen der Ausgabe des Flipflop enthält.
7. Die Schaltung von Anspruch l, bei der die Ausgabe-Auswahlschaltung eine Ausgabe-Auswahleinheit zum direk­ ten Ausgeben eines externen Taktsignals und eine Vielzahl von Auswahleinheiten zum Ausgeben eines Verzögerungstaktsi­ gnals enthält.
8. Die Schaltung von Anspruch 7, bei der die Ausgabe-Auswahleinheit folgendes enthält:
ein erstes Durchlaßgatter zum Empfangen eines externen Taktsignals oder eines von der Verzögerungseinheit ausgege­ benen Verzögerungstaktsignals und zum Durchlassen gemäß einem von der Vergleichseinheit ausgegebenen Vergleichs­ signal; und
ein parallel zum ersten Durchlaßgatter geschaltetes zweites Durchlaßgatter, das gemäß einem von der Vergleichs­ einheit ausgegebenen Vergleichssignal leitend wird.
9. Die Schaltung von Anspruch 7, bei der die Ausgabe-Auswahleinheit folgendes enthält:
einen Puffer zum Puffern eines externen Taktsignals; einen mit einem Ausgabe-Freigabeanschluß des Puffers und einem Massespannungsanschluß verbundenen und gemäß ei­ nem Schaltsignal gesteuerten ersten Schalter; und
einen mit dem Ausgabe-Freigabeanschluß des Puffers und dem Ausgangsanschluß der Vergleichseinheit verbundenen zweiten Schalter,
wobei eine erste Ausgabeeinheit und ein "n"-ter Ausga­ beanschluß folgendes enthält:
eine 2n-te Ausgabe-Auswahleinheit mit einem Inverter zum Puffern des Verzögerungstaktsignals, einem mit dem Ausgabe-Freigabeanschluß des Inverters verbundenen und gemäß einem Schaltsignal gesteuerten ersten Schalter und einem mit dem Ausgabe-Freigabeanschluß des Inverters und dem Aus­ gabeanschluß der Vergleichseinheit verbundenen zweiten Schalter; und
eine 2n-te Ausgabe-Auswahleinheit mit einem Puffer zum Puffern des Verzögerungstaktsignals, einem mit dem Ausgabe-Freigabeanschluß des Puffers verbundenen und gemäß einem Schaltsignal gesteuerten ersten Schalter und einem mit dem Ausgabe-Freigabeanschluß des Puffers und dem Ausgabean­ schluß der Vergleichseinheit verbundenen zweiten Schalter.
DE19603469A 1995-12-18 1996-01-31 Taktsignal-Modellierungsschaltung Expired - Lifetime DE19603469C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950051427A KR0179779B1 (ko) 1995-12-18 1995-12-18 클럭신호 모델링 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19603469A1 true DE19603469A1 (de) 1997-06-19
DE19603469C2 DE19603469C2 (de) 1998-10-22

Family

ID=19441031

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19603469A Expired - Lifetime DE19603469C2 (de) 1995-12-18 1996-01-31 Taktsignal-Modellierungsschaltung

Country Status (4)

Country Link
US (2) US5708382A (de)
JP (1) JP3288916B2 (de)
KR (1) KR0179779B1 (de)
DE (1) DE19603469C2 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19922805C2 (de) * 1998-05-18 2002-01-17 Nat Semiconductor Corp Taktsignalsynthetisierer
DE102005007652A1 (de) * 2005-02-19 2006-08-24 Infineon Technologies Ag DLL-Schaltung zum Bereitstellen eines Ausgangssignals mit einer gewünschten Phasenverschiebung

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5945861A (en) * 1995-12-18 1999-08-31 Lg Semicon., Co. Ltd. Clock signal modeling circuit with negative delay
KR100197563B1 (ko) * 1995-12-27 1999-06-15 윤종용 동기 지연라인을 이용한 디지탈 지연 동기루프 회로
KR100224690B1 (ko) * 1997-02-05 1999-10-15 윤종용 위상동기 지연회로
US5920222A (en) * 1997-04-22 1999-07-06 International Business Machines Corporation Tunable pulse generator based on a wave pipeline
JPH10313237A (ja) * 1997-05-09 1998-11-24 Nec Corp 遅延回路装置
JP3319340B2 (ja) * 1997-05-30 2002-08-26 日本電気株式会社 半導体回路装置
US6154079A (en) * 1997-06-12 2000-11-28 Lg Semicon Co., Ltd. Negative delay circuit operable in wide band frequency
JP3333429B2 (ja) * 1997-06-30 2002-10-15 株式会社東芝 半導体集積回路
KR100260556B1 (ko) * 1997-08-22 2000-07-01 윤종용 내부 클럭 발생회로
US6628157B1 (en) * 1997-12-12 2003-09-30 Intel Corporation Variable delay element for use in delay tuning of integrated circuits
US6104228A (en) * 1997-12-23 2000-08-15 Lucent Technologies Inc. Phase aligner system and method
JP3769940B2 (ja) * 1998-08-06 2006-04-26 株式会社日立製作所 半導体装置
TW439361B (en) * 1998-12-17 2001-06-07 Rohm Co Ltd Delay time control circuit
JP3825573B2 (ja) * 1999-02-17 2006-09-27 株式会社東芝 同期回路とその遅延回路
JP4531892B2 (ja) * 1999-10-29 2010-08-25 富士通セミコンダクター株式会社 半導体集積回路、半導体集積回路の制御方法、および可変遅延回路
US6441666B1 (en) * 2000-07-20 2002-08-27 Silicon Graphics, Inc. System and method for generating clock signals
US6704882B2 (en) 2001-01-22 2004-03-09 Mayo Foundation For Medical Education And Research Data bit-to-clock alignment circuit with first bit capture capability
JP2003023343A (ja) * 2001-07-10 2003-01-24 Mitsubishi Electric Corp 遅延信号生成回路
US6850107B2 (en) 2001-08-29 2005-02-01 Micron Technology, Inc. Variable delay circuit and method, and delay locked loop, memory device and computer system using same
US20030052719A1 (en) * 2001-09-20 2003-03-20 Na Kwang Jin Digital delay line and delay locked loop using the digital delay line
US7120215B2 (en) * 2001-12-12 2006-10-10 Via Technologies, Inc. Apparatus and method for on-chip jitter measurement
DE10241982B4 (de) 2002-09-11 2004-10-07 Infineon Technologies Ag Digitale Signal-Verzögerungs-Einrichtung
US6980041B2 (en) * 2002-10-04 2005-12-27 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Non-iterative introduction of phase delay into signal without feedback
US6774691B2 (en) * 2003-01-07 2004-08-10 Infineon Technologies Ag High resolution interleaved delay chain
DE10308324A1 (de) * 2003-02-26 2004-09-16 Infineon Technologies Ag Integrierte Halbleiteranordnung mit einem Takgenerator und Verfahren zum Überwachen eines Taktsignals
US6937075B2 (en) * 2003-05-29 2005-08-30 Intel Corporation Method and apparatus for reducing lock time in dual charge-pump phase-locked loops
US7233185B2 (en) * 2003-10-10 2007-06-19 Atmel Corporation Vernier circuit for fine control of sample time
JP2005157883A (ja) * 2003-11-27 2005-06-16 Oki Electric Ind Co Ltd リセット回路
JP2005269147A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 Sanyo Electric Co Ltd 遅延回路
US7319345B2 (en) * 2004-05-18 2008-01-15 Rambus Inc. Wide-range multi-phase clock generator
US7276946B2 (en) * 2004-07-16 2007-10-02 Micron Technology, Inc. Measure-controlled delay circuits with reduced phase error
US7583115B2 (en) 2004-08-26 2009-09-01 Micron Technology, Inc. Delay line off-state control with power reduction
TWI358694B (en) * 2006-09-12 2012-02-21 Himax Semiconductor Inc Operating frequency generating method and circuit
US7973549B2 (en) * 2007-06-12 2011-07-05 International Business Machines Corporation Method and apparatus for calibrating internal pulses in an integrated circuit
US8692602B2 (en) * 2012-07-30 2014-04-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method and apparatus of digital control delay line
US9479151B2 (en) 2013-10-04 2016-10-25 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for controlling delay circuits during an idle state to reduce degradation of an electrical characteristic
US10505553B1 (en) * 2018-11-29 2019-12-10 International Business Machines Corporation Detecting the health of a phase loop lock

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3942037A (en) * 1974-09-06 1976-03-02 Motorola, Inc. MOS edge sensing circuit
US4618787A (en) * 1983-12-09 1986-10-21 At&T Teletype Corporation Adjustable time delay circuit
US5245231A (en) * 1991-12-30 1993-09-14 Dell Usa, L.P. Integrated delay line

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3248657A (en) * 1963-10-18 1966-04-26 Rca Corp Pulse generator employing serially connected delay lines
GB1187489A (en) * 1967-10-25 1970-04-08 Standard Telephones Cables Ltd Variable Digital Delay Circuit
US3624519A (en) * 1969-11-10 1971-11-30 Westinghouse Electric Corp Tapped delay line timing circuit
US3619669A (en) * 1970-05-20 1971-11-09 Us Navy Pulsed digital delay
US4443766A (en) * 1976-06-15 1984-04-17 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Precision digital sampler
JPS60204121A (ja) * 1984-03-29 1985-10-15 Fujitsu Ltd 位相同期回路
JPS60219675A (ja) * 1984-04-13 1985-11-02 Sony Corp 時間軸変換回路
US4675612A (en) * 1985-06-21 1987-06-23 Advanced Micro Devices, Inc. Apparatus for synchronization of a first signal with a second signal
JPS6331212A (ja) * 1986-07-24 1988-02-09 Nec Corp 位相同期回路
JPH04331507A (ja) * 1991-05-07 1992-11-19 Nec Eng Ltd 遅延回路
US5465076A (en) * 1991-10-04 1995-11-07 Nippondenso Co., Ltd. Programmable delay line programmable delay circuit and digital controlled oscillator
US5451894A (en) * 1993-02-24 1995-09-19 Advanced Micro Devices, Inc. Digital full range rotating phase shifter
US5537069A (en) * 1995-03-30 1996-07-16 Intel Corporation Apparatus and method for selecting a tap range in a digital delay line

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3942037A (en) * 1974-09-06 1976-03-02 Motorola, Inc. MOS edge sensing circuit
US4618787A (en) * 1983-12-09 1986-10-21 At&T Teletype Corporation Adjustable time delay circuit
US5245231A (en) * 1991-12-30 1993-09-14 Dell Usa, L.P. Integrated delay line

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP 6-177723 A In: Pat. Abstr. of Japan, Sect. E, Vol. 18, No. 509 1994(E1610) *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19922805C2 (de) * 1998-05-18 2002-01-17 Nat Semiconductor Corp Taktsignalsynthetisierer
DE102005007652A1 (de) * 2005-02-19 2006-08-24 Infineon Technologies Ag DLL-Schaltung zum Bereitstellen eines Ausgangssignals mit einer gewünschten Phasenverschiebung

Also Published As

Publication number Publication date
US5708382A (en) 1998-01-13
JPH09238058A (ja) 1997-09-09
KR0179779B1 (ko) 1999-04-01
JP3288916B2 (ja) 2002-06-04
KR970055406A (ko) 1997-07-31
DE19603469C2 (de) 1998-10-22
US5909133A (en) 1999-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19603469A1 (de) Taktsignal-Modellierungsschaltung
DE3832113C2 (de)
DE60224478T2 (de) Schaltung zur Serialisierung von synchronen Daten
DE102007020005B3 (de) Integrierte Schaltung zur Takterzeugung für Speicherbausteine
DE60202749T2 (de) Schnittstelle von synchron zu asynchron zu synchron
EP0322618A2 (de) Taktauswahlschaltung
DE3742514C2 (de)
DE60214992T2 (de) Mehrbit-prefetch-ausgangsdatenweg
US5406216A (en) Technique and method for asynchronous scan design
DE10141939B4 (de) Flip-Flop-Schaltung zur taktsignalabhängigen Datenpufferung und diese enthaltender Signalhöhenkomparator
DE19502035A1 (de) Frequenzvervielfacherschaltung
DE19649676A1 (de) Peripherieeinheitwählsystem
DE10063307A1 (de) Auffangschaltung für Daten und deren Ansteuerungsverfahren
CA1288828C (en) Clock pulse generator for microcomputer
US4825439A (en) Semiconductor logic integrated circuit device having first and second operation modes for testing
DE3743586C2 (de)
DE3926489A1 (de) Pseudozufallsrauschcodegenerator
DE10064206A1 (de) Verzögerungsverriegelungsschleife zur Verwendung bei Halbleiterspeichergeräten
DE19811591C2 (de) Taktsignal modellierende Schaltung mit negativer Verzögerung
US5132993A (en) Shift register circuit
EP0903859A2 (de) Frequenzteiler mit geringem Stromverbrauch
DE19924254C2 (de) Synchronisierschaltung zum Empfangen eines asynchronen Eingangssignals
DE4428545A1 (de) Schaltungsanordnung zur Umwandlung eines seriellen Datensignals in ein paralleles Datensignal
DE19927094A1 (de) Abtast-Flipflop
DE10018988A1 (de) Hochgeschwindigkeits-Pipelinevorrichtung und Verfahren zum Erzeugen von Steuersignalen dafür

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: HYNIX SEMICONDUCTOR INC., ICHON, KYONGGI, KR

8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: MAGNACHIP SEMICONDUCTOR, LTD., CHEONGJU, KR

R071 Expiry of right